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Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

  Precio Cantidad
Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
  • Electrónico Electrónico
$20
  • ISBN/ISSN: 9786073080866
  • Editor: Facultad de Química
  • Edición o Número de Reimpresión: 1a edición, año de edición -2023-
  • Tema: Química
  • Peso en Kg:
  • Tamaño: 45 Mb
  • Extensión de fichero: 9786073080866
  • Peso en Mb: 4.5
  • Terminado o acabado: epub
  • Idioma: español

González Mancera, Guillermina

Noguez Amaya, María Eugenia

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